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            Technical articles
            傅立葉變換紅外光譜儀操作流程:從開(kāi)機(jī)到數(shù)據(jù)分析
            更新時(shí)間:2025-10-13 點(diǎn)擊次數(shù):1350
              以下是傅立葉變換紅外光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)操作全流程,涵蓋從開(kāi)機(jī)到數(shù)據(jù)分析的關(guān)鍵步驟及注意事項(xiàng):
             
              一、開(kāi)機(jī)與初始化
             
              電源開(kāi)啟
             
              按下儀器主機(jī)電源開(kāi)關(guān),等待自檢完成(約10秒),狀態(tài)燈變藍(lán)后表示自檢通過(guò)。
             
              預(yù)熱要求:至少等待20-30分鐘,確保光源和電子部件穩(wěn)定。部分機(jī)型(如Nicolet 6700)需等待光源能量輸出充分穩(wěn)定。
             
              軟件啟動(dòng)
             
              開(kāi)啟計(jì)算機(jī),運(yùn)行配套操作軟件(如OMNIC、GRAMS等)。
             
              檢查電腦與儀器主機(jī)的通訊狀態(tài),確認(rèn)連接正常。
             
              二、樣品準(zhǔn)備
             
              根據(jù)樣品類型選擇制樣方法:
             
              固體樣品
             
              KBr壓片法:取1-2 mg樣品與干燥KBr粉末(約100 mg)混合研磨,壓制成透光率>80%的薄片。
             
              ATR附件:直接將固體樣品接觸ATR晶體表面,適用于難壓片或易吸潮樣品。
             
              糊狀法:研磨樣品后滴加液體石蠟混勻,涂于KBr晶片上測(cè)試。
             
              液體樣品
             
              溶液法:溶解樣品于適當(dāng)溶劑(如CCl?),注入0.1 mm液體池,濃度控制在10%左右。
             
              液膜法:粘稠液體直接涂于KBr晶片;低沸點(diǎn)液體夾于兩片KBr晶片間測(cè)試。
             
              氣體樣品
             
              使用專用氣體池,確保氣路密封性,避免泄漏。
             
              三、參數(shù)設(shè)置
             
              實(shí)驗(yàn)設(shè)置
             
              Y軸格式:選擇“Absorbance”(吸光度)。
             
              背景管理:設(shè)置為“采集樣品前采集背景”。
             
              掃描次數(shù):推薦32次以上以提高信噪比。
             
              分辨率:固體/液體樣品通常選4 cm?¹,氣體樣品選2 cm?¹。
             
              波數(shù)范圍:典型值為4000-400 cm?¹。
             
              光學(xué)臺(tái)校準(zhǔn)
             
              檢查“光學(xué)臺(tái)”能量值,正常范圍為6-8。若異常,點(diǎn)擊“診斷”進(jìn)行準(zhǔn)直校正(每月一次)。
             
              四、背景與樣品采集
             
              背景掃描
             
              放入空白KBr片或空倉(cāng),點(diǎn)擊“采集背景”,等待掃描完成(左下角菱形圖標(biāo)全黑)。
             
              樣品掃描
             
              快速放入樣品,關(guān)閉艙門(mén),點(diǎn)擊“采集樣品”。
             
              輸入譜圖標(biāo)題,等待掃描完成(約1-3分鐘)。
             
              五、數(shù)據(jù)處理與分析
             
              基線校正
             
              點(diǎn)擊“自動(dòng)基線校正”圖標(biāo),消除基線漂移。
             
              手動(dòng)調(diào)整:使用直線法、三點(diǎn)法或二次多項(xiàng)式法優(yōu)化基線。
             
              譜圖轉(zhuǎn)換
             
              將縱坐標(biāo)從吸光度轉(zhuǎn)換為透射率(%T),便于觀察峰形。
             
              標(biāo)峰與檢索
             
              標(biāo)峰:設(shè)定閾值后自動(dòng)標(biāo)注峰位,手動(dòng)調(diào)整未標(biāo)注峰。
             
              譜圖檢索:連接標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)(如HR Aldrich FT-IR Collection),比對(duì)檢索結(jié)果。
             
              定量分析
             
              使用峰面積或峰高法,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量。
             
              數(shù)據(jù)導(dǎo)出
             
              保存譜圖為T(mén)IFF/CSV格式,命名規(guī)范(如“樣品名_日期_操作人”)。
             
              六、關(guān)機(jī)與維護(hù)
             
              關(guān)機(jī)步驟
             
              退出軟件,關(guān)閉儀器主機(jī)電源。
             
              移走樣品,清潔樣品室,放入干燥劑防潮。
             
              關(guān)閉計(jì)算機(jī),記錄使用情況。
             
              日常維護(hù)
             
              每次使用后清潔樣品室,防止污染。
             
              定期校準(zhǔn)檢測(cè)器(如每月一次),確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
             
              保持儀器室濕度<70%,無(wú)塵、無(wú)腐蝕氣體。
             
              七、注意事項(xiàng)
             
              安全操作
             
              佩戴防護(hù)眼鏡,避免激光損傷。
             
              含水樣品不得直接接觸KBr/NaCl窗片,防止晶體失效。
             
              制樣要求
             
              壓片需無(wú)裂痕、透光均勻,局部發(fā)白表示厚薄不均。
             
              溶液法需確認(rèn)溶劑在析波數(shù)范圍內(nèi)無(wú)吸收。
             
              故障處理
             
              信號(hào)異常時(shí)檢查電源電壓、檢測(cè)器狀態(tài)及光路準(zhǔn)直。
             
              譜圖噪聲大時(shí),增加掃描次數(shù)或使用數(shù)字濾波(如中值濾波)。

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